数据分析历史记录

1. 概述

1.1 功能概述

在Wyn中，当您在预览或查看仪表板时（需切换至高级分析模式），对组件进行筛选、排序或钻取等操作后，系统会自动记录完整的分析历史轨迹，让您随时回溯和重现关键分析节点。

2. 操作步骤

2.1 前提条件

1. 分析模式： 仪表板必须设置为高级分析模式。

   
   

2. 文档要求： 仪表板已完成设计并保存。

2.2 操作步骤

1. 用户登录后，打开已保存的仪表板（如“Demo-高级分析模式”），选中组件（如柱状图），给组件设置筛选和排序设置（这里以筛选和排序为例，其他属性也可以）。

• 筛选条件：

  
  

• 排序条件：

  
  

2. 在预览界面，鼠标悬浮至已设置筛选和排序的组件，单击更多操作按钮PixPin_2025-06-19_15-20-53，选择分析历史按钮，即可查看该组件的分析历史。

   
   

3. 其他分析历史相关操作，和设计时分析的数据分析历史记录一致，具体可以参考数据分析历史记录