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在 Wyn 中,除了基础的仪表板创建操作(如添加组件、绑定数据和设置外观),您还可以利用丰富的数据探索功能(如筛选、排序、格式化和参考线等)来深度分析数据——既可在设计阶段预设探索逻辑,使仪表板运行时直接呈现优化结果;也可在高级分析模式下(标准模式不支持)进行自助式分析,灵活调整分析视角,满足实时讲解与探索需求。本节将为您具体介绍如何在设计器中对组件进行设计时分析。
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注意:
仪表板在编辑状态和运行状态下(仅高级分析模式时)都可以进行数据探索,二者的主要区别为:
入口与操作差异: 编辑状态下,选中组件后可直接配置数据探索方式;运行状态(仅高级分析模式)需通过菜单按钮选择探索方式,且支持的功能项可能不同。
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持久性区别: 编辑状态的数据探索可被保存;运行状态的数据探索为临时交互,刷新或重新打开后将恢复初始状态。
运行时独占功能: 数据钻取、文档跳转及动态更改数据绑定等操作,仅限运行或预览时使用,编辑状态下不可用。